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工業(yè)CT系統(tǒng)的組成和應(yīng)用工業(yè)CT，即計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)可生成3D圖像，可視化掃描對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，包括缺陷或其他目標(biāo)區(qū)域的確切空間位置。工業(yè)CT在質(zhì)量保證和研發(fā)方面的優(yōu)勢(shì)計(jì)算機(jī)斷層掃描是最重要、質(zhì)量保證和質(zhì)量控制無(wú)損檢測(cè)方法之一。CT檢測(cè)系統(tǒng)支持電子、汽車和航空航天等行業(yè)的制造商和科學(xué)家追求最高的產(chǎn)品質(zhì)量和高效生產(chǎn)流程，減少?gòu)U品和召回、減少浪費(fèi)并縮短停機(jī)時(shí)間。工業(yè)CT如何創(chuàng)建3D數(shù)據(jù)?為生成待測(cè)物體的3D圖像，工業(yè)CT掃描系統(tǒng)首先創(chuàng)建一系列不同旋轉(zhuǎn)角度的2DX射線圖像，即所...

工業(yè)X射線是如何工作的？從微小的機(jī)電零件到大型飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)，Analysis（安賽斯）X射線技術(shù)廣泛用于在不破壞零件的情況下可視化其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的應(yīng)用中。工業(yè)X射線可用于·檢驗(yàn)·質(zhì)量保證和材料分析·失效分析，如缺陷、孔隙、裂紋、夾雜物等·裝配檢查·內(nèi)外結(jié)構(gòu)測(cè)量·樣品檢驗(yàn)、小批量生產(chǎn)和100%全檢·過(guò)程控制保持產(chǎn)品質(zhì)量可控質(zhì)量保證是維持業(yè)務(wù)良性增長(zhǎng)的關(guān)鍵。X射線技術(shù)用于無(wú)損檢測(cè)(NDT)可幫助制造商確保產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和安全性，避免產(chǎn)品召回、生產(chǎn)停滯或停機(jī)。利用Analysis（安賽...

聲掃顯微鏡的維護(hù)和保養(yǎng)是確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行、提高使用壽命、保持高質(zhì)量圖像的關(guān)鍵。它作為精密儀器，長(zhǎng)期使用中需要特別注意清潔、調(diào)試、存放等多個(gè)方面的保養(yǎng)。以下是聲掃顯微鏡維護(hù)和保養(yǎng)的幾個(gè)要點(diǎn)：1、定期清潔鏡頭和物鏡鏡頭和物鏡是最容易受到灰塵、油漬和其他污染物影響的部位。定期清潔這些部件可以確保圖像的清晰度和準(zhǔn)確性。在清潔時(shí)，應(yīng)使用專用的清潔工具，如氣吹、鏡頭紙或?qū)Ｓ玫臒o(wú)紡布，以及適當(dāng)?shù)溺R頭清潔液。2、防止物鏡和鏡頭損傷物鏡和鏡頭是重要的組成部分之一，任何碰撞、刮擦或過(guò)度壓力都可...

計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)是指應(yīng)用于工業(yè)中的核成像技術(shù)。其基本原理是依據(jù)輻射在被檢測(cè)物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對(duì)輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。主要由X射線機(jī)、X射線探測(cè)器、圖像顯示及處理三部分組成,其主要應(yīng)用是X射線的無(wú)損檢測(cè)。它主要檢測(cè)焊接缺陷以及腐蝕和裝配缺陷。計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可按國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量CT伏安特性及曲線、5%、10%誤差曲線、直阻、變比極性；可測(cè)裝在變壓器中的套管CT;可直接測(cè)量電壓互感器的變比；可定性測(cè)量電壓互感器的比差和極性；可現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量電流和電壓互感器的實(shí)際二次...

所謂的X射線檢測(cè)機(jī)是焦點(diǎn)尺寸可以達(dá)到幾個(gè)微米，并且能夠在0～225kV或更高恒電壓模式下，以一定的功率(通常最高為320W)連續(xù)工作的X射線機(jī)。X射線檢測(cè)機(jī)的焦點(diǎn)尺寸通?？梢赃B續(xù)可調(diào)，從幾微米直到0.2毫米或更高。與常規(guī)X射線管相同，X射線檢測(cè)管的陽(yáng)極也是用循環(huán)油或水來(lái)冷卻。與常規(guī)X射線機(jī)不同的是，用于無(wú)損檢測(cè)的X射線檢測(cè)管是用真空泵來(lái)維持X射線管內(nèi)的真空度(約為10-7)。X射線檢測(cè)管可以很方便的打開(即開放式或稱為開管)，用來(lái)更換不同的靶材以產(chǎn)生不同的X射線頻譜;更換不同...

在科技日新月異的今天，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)已成為眾多工業(yè)領(lǐng)域一環(huán)。其中，超聲波掃描顯微鏡以其優(yōu)勢(shì)脫穎而出，成為探索物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)、識(shí)別隱藏缺陷的“透視眼”。超聲波掃描顯微鏡以其廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，展現(xiàn)了其強(qiáng)大的生命力。在半導(dǎo)體電子行業(yè)中，它用于檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、IGBT等大功率器件的內(nèi)部缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性。在材料行業(yè)，無(wú)論是復(fù)合材料、鍍膜、電鍍還是金屬焊接，都能精準(zhǔn)識(shí)別內(nèi)部的分層、裂紋等細(xì)微問(wèn)題。此外，生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域也離不開它的支持，在活體細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼及血管檢測(cè)中發(fā)揮...

安賽斯光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器，簡(jiǎn)稱光彈儀。應(yīng)用它可以測(cè)試SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力，以圖像形式直觀觀察被測(cè)件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。主要技術(shù)參數(shù)：1.測(cè)試面積(即光源尺寸)標(biāo)準(zhǔn)尺寸為300mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；2.相機(jī)參數(shù)2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖...

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：安賽斯光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器，簡(jiǎn)稱光彈儀。應(yīng)用它可以通過(guò)模型在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機(jī)械部件的應(yīng)力和應(yīng)力分布的測(cè)試，并可以在模型上直接看到被測(cè)件的全部應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。主要技術(shù)參數(shù)：測(cè)試面積(即光源尺寸)：j70-j180mm；應(yīng)力雙折射量程：基本型:1/4波長(zhǎng)(以紅光為例：157.5nm)；增強(qiáng)型：2296nm(通過(guò)藍(lán)綠光雙波長(zhǎng)法測(cè)試...